SJ 50033.91-1995 半导体分立器件 3CD030型低频大功率晶体管详细规范
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ID： |
4A8755D7D89D40758EBFDC4BDC79D9E4 |
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0.59 |
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11 |
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日期： |
2024-7-28 |
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中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50033/91-1995,半导体分立器件,3CD030型低频大功率晶体管,详细规范,Semiconductor discrete devices,Detail specification for type 3CD030,low-fyequency and high-power transistor,1995-05-25 发布1995-12-0I 实施,中华人民共和国电子工业部批准,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体分立器件,3CD030型低频大功率晶体管,详细规范,SJ 50033/91-1995,Semiconductor discrete devices,Detail specification for type 3CD030,Low-frequency and high-power transistor,1范,1.I 主题内容,本规范规定了 3CD030B.F型低频大功率晶体管（以下简称器件）的详细要求,1.2 适用范围,本规范适用于器件的研制、生产和采购,1.3 分类,本规范根据器件质量保证等级进行分类,1.3.1 器件的等级,按GJB 33《半导体分立器件总规范》L3条的规定,提供的产品保证等级为普军、桂军和超,挣军三级,分别用字母GP、GT和GCT表示,2引用文件,GB 4587—84,GB 7581—87,GJB 33—85,GJB 128—86,双极型晶体管测试方法,半导体分立器件外形尺寸,半导体分立器件总规范,半导体分立器件试验方法,3要求,3.1 详细要求,各项要求应按GJB 33和本规范的规定,3.2 设计、结构和外形尺寸,器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB 33和本规范的规定,3.2.1 引出端材料和涂层,引出端材料应为可伐。引出端表面应为锡层或镇层,中华人民共和电子工业部!995-05-25发布1995-12-01 实施,___ ] _,SJ 50033/91-1995,3.2.2 器件结构,采用扩散台面或外延台面结构,3.2.3 外形尺寸,外形尺寸应符合GB 758I的B2-01B型及如下的规定。见图1,mm,一基极,2ー发射极,集电极接外壳,嗡ぐ寸,B2-01B,mm nom max,A 9.8,弧1.52,跖2 0.9 1.1,初15.0,d 3.0,F 3.0,L 8.5 10.5,レ1.5,4.0 4.2,q 22.8 23.2,% 9.5,跖4.3,S 13.1,5 31.4,19.0,图1外形图,3.3 最大额定值和主要电特性,3.3J最大额定值,注:1) 丁し＞25匕时按200mW/匕的速率线性地降额〇,型号,P D,丄tot,Tc = 25匕,(W),Vcbo,V,ヅCEO,V,Vero,V,1,A r,7吨,3CD030B,100,100 100,4 10 175 - 55.+ 175,3CD030C 150 150,3CD030D 200 200,3CD030E 250 250,3CD030F 300 300,2,SJ 50033/91-1995,3.3.2 主要电行性（Ta = 25じ）,B~F,限,号,3CD030,、值,型、,极h ffV,VtF = 5V,J0 二 i . 5A,Ic2 = 0.75A,^EBsat /t,VCE- 5V,Ic = 0.5A,f= 1MH2,MHz,R (th)j c,VCe = 5V,Ic-0.5A,25匕式Tし425匕,c/w,1U = 1.5A /用=O3A,Ic2 = 0.75A /^^O.ISA,(V) (V),最大值最大值最小值最小值,黄:40 ~ 80,绿:6O~ 120,蓝:100~ 180,1.5 1.8 3.0 5.0,注:1）/口和/用为3CD030B~C的测试电流;,is和I附为3CD030D.F的测试电流,3.4 电测试要求,电测试应符合GB 458?及本规范的规定,3.5 标志,标志应符合GJB 33及本规范的规定,4质量保证规定,4.1 抽样和检验,抽样和检验应按GJB 33的规定,4.2 鉴定检验,鉴定检验应按GJB 33的规定,4.3 筛选（仅对GT和GCT级）,筛选应按GJB 33表2和本规范的规定。其测试应按本规范表1的规定进行,超过本规范,表1极限值的器件应予剔除,筛选,（见GJB 33的表2）,测试或试验,丒丒い II— . . ”—一 ?… . . .. .. . …一 1 ■■,7.中间电参数测试f501和るFF1,8.功率老炼,功率老炼条件如下:,3= 162.5± 12.5 匕,Vcf = 25V,PB20W,9最后测试,按本规范表1的A2分组,△スめ《初始值的100%或300円^取较大者,△力ffi&初始值的±20%,4.4 质量一致性检验,质量一致性检验应按GJB 33的规定,—3 —,SJ 50033/91-1995,4.4 J A组检验,A组检验应按GJB 33和本规范表1的规定进行,4.4 .2 B组检验,B组检验应按GJB 33和本规范表2的规定进行,4.4 .3 C组检验,C组检验应按GJB 33和本规范表3的规定进行,4.5检验方法,检脸方法应按本规范相应的表和下列规定:,4.5.I 脉冲测试,脉冲测试条件应按GJB 128的3.3.2.1的规定〇,表1 A组检验,检验或试验,A1分组,外观及机械检验,GB 4587,---------- 1----------------------------- LTPD 符号,方 法 条 件,GJB 128 5,2071,……
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